上海洪富儀器儀表有限公司
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文章詳情
探傷儀選型
日期：2024-11-24 01:29
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摘要：
超聲波選型大全
JB/T4730.3—2005
代替JB 4730—1994
1 范 圍
JB/T 4730的本部分規(guī)定了承壓設(shè)備采用A型脈沖反射式超聲波探傷儀檢測(cè)工件缺陷的超聲檢測(cè)方法和質(zhì)量分級(jí)要求。
本部分適用于金屬材料制承壓設(shè)備用原材料、零部件和焊接接頭的超聲檢測(cè)，也適用于金屬材料制在用承壓設(shè)備的超聲檢測(cè)。
與承壓設(shè)備有關(guān)的支承件和結(jié)構(gòu)件的超聲檢測(cè)，也可參照本部分使用。
2 規(guī)范性引用文件
下列文件中的條款通過(guò)JB/T 4730的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的*新版本。凡是不注日期的引用文件，其*新版本適用于本部分。
JB/T 4730.1 承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)第1部分:通用要求
JB/T 7913—1995 超聲波檢測(cè)用鋼制對(duì)比試塊的制作與校驗(yàn)方法
JB/T 9214—1999 A型脈沖反射式超聲探傷系統(tǒng)工作性能測(cè)試方法
JB/T 10061—1999 A型脈沖反射式超聲波探傷儀通用技術(shù)條件
JB/T 10062—1999 超聲探傷用探頭性能測(cè)試方法
JB/T 10063—1999 超聲探傷用1號(hào)標(biāo)準(zhǔn)試塊技術(shù)條件
3 一般要求
3.1 超聲檢測(cè)人員
超聲檢測(cè)人員的一般要求應(yīng)符合JBFF 4730.1的有關(guān)規(guī)定。
3.2 檢測(cè)設(shè)備
3.2.1 超聲檢測(cè)設(shè)備均應(yīng)具有產(chǎn)品質(zhì)量合格證或合格的證明文件。
3.2.2 探傷儀、探頭和系統(tǒng)性能
3.2.2.1探傷儀
采用A型脈沖反射式超聲波探傷儀，其工作頻率范圍為0.5MHz～10MHz，儀器至少在熒光屏滿刻度的80%范圍內(nèi)呈線性顯示。探傷儀應(yīng)具有80dB以上的連續(xù)可調(diào)衰減器，步進(jìn)級(jí)每檔不大于2dB，其精度為任意相鄰12dB的誤差在±1dB以?xún)?nèi)，*大累計(jì)誤差不超過(guò)1dB。水平線性誤差不大于1%，垂直線性誤差不大于5%。其余指標(biāo)應(yīng)符合JB/T10061的規(guī)定。
3.2.2.2 探頭
3.2.2.2.1 晶片面積一般不應(yīng)大于500mm2，且任一邊長(zhǎng)原則上不大于25mm。
3.2.2.2.2 單斜探頭聲束軸線水平偏離角不應(yīng)大于2°，主聲束垂直方向不應(yīng)有明顯的雙峰。
3.2.2.3 超聲探傷儀和探頭的系統(tǒng)性能
3.2.2.3.1 在達(dá)到所探工件的*大檢測(cè)聲程時(shí)，其有效靈敏度余量應(yīng)不小于10dB。
3.2.2.3.2 儀器和探頭的組合頻率與公稱(chēng)頻率誤差不得大于±10%。
3.2.2.3.3 儀器和直探頭組合的始脈沖寬度(在基準(zhǔn)靈敏度下):對(duì)于頻率為5MHz的探頭，寬度不大于10mm；對(duì)于頻率為2.5MHz的探頭，寬度不大于15mm。
3.2.2.3.4 直探頭的遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力應(yīng)不小于30dB，斜探頭的遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力應(yīng)不小于6dB。
3.2.2.3.5 儀器和探頭的系統(tǒng)性能應(yīng)按JB/T 9214和JB/T10062的規(guī)定進(jìn)行測(cè)試。
3.3 超聲檢測(cè)一般方法
3.3.1 檢測(cè)準(zhǔn)備
3.3.1.1 承壓設(shè)備的制造、安裝和在用檢驗(yàn)中，超聲檢測(cè)的檢測(cè)時(shí)機(jī)及抽檢率的選擇等應(yīng)按相關(guān)法規(guī)、標(biāo)準(zhǔn)及有關(guān)技術(shù)文件的規(guī)定。
3.3.1.2 所確定檢測(cè)面應(yīng)保證工件被檢部分均能得到充分檢查。
3.3.1.3 焊縫的表面質(zhì)量應(yīng)經(jīng)外觀檢測(cè)合格。所有影響超聲檢測(cè)的銹蝕、飛濺和污物等都應(yīng)予以**，其表面粗糙度應(yīng)符合檢測(cè)要求。表面的不規(guī)則狀態(tài)不得影響檢測(cè)結(jié)果的正確性和完整性，否則應(yīng)做適當(dāng)?shù)奶幚怼?/span>
3.3.2 掃查覆蓋率
為確保檢測(cè)時(shí)超聲聲束能掃查到工件的整個(gè)被檢區(qū)域，探頭的每次掃查覆蓋率應(yīng)大于探頭直徑的15%。
3.3.3 探頭的移動(dòng)速度
探頭的掃查速度不應(yīng)超過(guò)150mm/s。當(dāng)采用自動(dòng)報(bào)警裝置掃查時(shí)，不受此限。
3.3.4 掃查靈敏度
掃查靈敏度通常不得低于基準(zhǔn)靈敏度。
3.3.5 耦合劑
應(yīng)采用透聲性好，且不損傷檢測(cè)表面的耦合劑，如機(jī)油、漿糊、甘油和水等。
3.3.6 靈敏度補(bǔ)償
a) 耦合補(bǔ)償。在檢測(cè)和缺陷定量時(shí)，應(yīng)對(duì)由表面粗糙度引起的耦合損失進(jìn)行補(bǔ)償。
b) 衰減補(bǔ)償。在檢測(cè)和缺陷定量時(shí)，應(yīng)對(duì)材質(zhì)衰減引起的檢測(cè)靈敏度下降和缺陷定量誤差進(jìn)行補(bǔ)償。
c) 曲面補(bǔ)償。對(duì)探測(cè)面是曲面的工件，應(yīng)采用曲率半徑與工件相同或相近的試塊，通過(guò)對(duì)比試驗(yàn)進(jìn)行曲率補(bǔ)償。
3.4 系統(tǒng)校準(zhǔn)和復(fù)核
3.4.1 一般要求
系統(tǒng)校準(zhǔn)應(yīng)在標(biāo)準(zhǔn)試塊上進(jìn)行，校準(zhǔn)中應(yīng)使探頭主聲束垂直對(duì)準(zhǔn)反射體的反射面，以獲得穩(wěn)定和*大的反射信號(hào)。
3.4.2 儀器校準(zhǔn)
每隔3個(gè)月至少對(duì)儀器的水平線性和垂直線性進(jìn)行一次測(cè)定，測(cè)定方法按JB/T10061的規(guī)定。
3.4.3 新購(gòu)探頭測(cè)定
新購(gòu)探頭應(yīng)有探頭性能參數(shù)說(shuō)明書(shū)，新探頭使用前應(yīng)進(jìn)行前沿距離、K值、主聲束偏離、靈敏度余量和分辨力等主要參數(shù)的測(cè)定。測(cè)定應(yīng)按JB/T10062的有關(guān)規(guī)定進(jìn)行，并滿足其要求。
3.4.4 檢測(cè)前儀器和探頭系統(tǒng)測(cè)定
3.4.4.1 使用儀器—斜探頭系統(tǒng)，檢測(cè)前應(yīng)測(cè)定前沿距離、K值和主聲束偏離，調(diào)節(jié)或復(fù)核掃描量程和掃查靈敏度。
3.4.4.2 使用儀器一直探頭系統(tǒng)，檢測(cè)前應(yīng)測(cè)定始脈沖寬度、靈敏度余量和分辨力，調(diào)節(jié)或復(fù)核掃描量程和掃查靈敏度。
3.4.5 檢測(cè)過(guò)程中儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核
a) 校準(zhǔn)后的探頭、耦合劑和儀器調(diào)節(jié)旋鈕發(fā)生改變時(shí)；
b) 檢測(cè)人員懷疑掃描量程或掃查靈敏度有變化時(shí)；
c) 連續(xù)工作4h以上時(shí)；
d) 工作結(jié)束時(shí)。
3.4.6 檢測(cè)結(jié)束前儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核
a) 每次檢測(cè)結(jié)束前，應(yīng)對(duì)掃描量程進(jìn)行復(fù)核。如果任意一點(diǎn)在掃描線上的偏移超過(guò)掃描線讀數(shù)的10%，則掃描量程應(yīng)重新調(diào)整，并對(duì)上一次復(fù)核以來(lái)所有的檢測(cè)部位進(jìn)行復(fù)檢。
b) 每次檢測(cè)結(jié)束前，應(yīng)對(duì)掃查靈敏度進(jìn)行復(fù)核。一般對(duì)距離一波幅曲線的校核不應(yīng)少于3點(diǎn)。如曲線上任何一點(diǎn)幅度下降2dB，則應(yīng)對(duì)上一次復(fù)核以來(lái)所有的檢測(cè)部位進(jìn)行復(fù)檢；如幅度上升2dB，則應(yīng)對(duì)所有的記錄信號(hào)進(jìn)行重新評(píng)定。
3.4.7 校準(zhǔn)、復(fù)核的有關(guān)注意事項(xiàng)
校準(zhǔn)、復(fù)核和對(duì)儀器進(jìn)行線性檢測(cè)時(shí)，任何影響儀器線性的控制器(如抑制或?yàn)V波開(kāi)關(guān)等)都應(yīng)放在“關(guān)”的位置或處于*低水平上。
3.5 試塊
3.5.1 標(biāo)準(zhǔn)試塊
3.5.1.1 標(biāo)準(zhǔn)試塊是指本部分規(guī)定的用于儀器探頭系統(tǒng)性能校準(zhǔn)和檢測(cè)校準(zhǔn)的試塊，本部分采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊有:
a) 鋼板用標(biāo)準(zhǔn)試塊:CBⅠ、CBⅡ；
b) 鍛件用標(biāo)準(zhǔn)試塊:CSⅠ、CSⅡ、CSⅢ；
c) 焊接接頭用標(biāo)準(zhǔn)試塊:CSK-ⅠA、CSK-ⅡA、CSK-ⅢA、CSK-ⅣA。
3.5.1.2 標(biāo)準(zhǔn)試塊應(yīng)采用與被檢工件聲學(xué)性能相同或近似的材料制成，該材料用直探頭檢測(cè)時(shí)，不得有大于或等于φ2mm平底孔當(dāng)量直徑的缺陷。
3.5.1.3 標(biāo)準(zhǔn)試塊尺寸精度應(yīng)符合本部分的要求，并應(yīng)經(jīng)計(jì)量部門(mén)檢定合格。
3.5.1.4 標(biāo)準(zhǔn)試塊的其他制造要求應(yīng)符合JB/T 10063和JB/T 7913的規(guī)定。
3.5.2 對(duì)比試塊
3.5.2.1 對(duì)比試塊是指用于檢測(cè)校準(zhǔn)的試塊。
3.5.2.2 對(duì)比試塊的外形尺寸應(yīng)能代表被檢工件的特征，試塊厚度應(yīng)與被檢工件的厚度相對(duì)應(yīng)。如果涉及到兩種或兩種以上不同厚度部件焊接接頭的檢測(cè)，試塊的厚度應(yīng)由其*大厚度來(lái)確定。
3.5.2.3 對(duì)比試塊反射體的形狀、尺寸和數(shù)量應(yīng)符合本部分的規(guī)定。
4 承壓設(shè)備用原材料、零部件的超聲檢測(cè)和質(zhì)量分級(jí)
4.1 承壓設(shè)備用鋼板超聲檢測(cè)和質(zhì)量分級(jí)
4.1.1 范圍
本條適用于板厚為6mm～250mm的碳素鋼、低合金鋼制承壓設(shè)備用板材的超聲檢測(cè)和質(zhì)量分級(jí)。
奧氏體鋼板材、鎳及鎳合金板材以及雙相不銹鋼板材的超聲檢測(cè)也可參照本章執(zhí)行。
4.1.2 探頭選用
4.1.2.1 探頭選用應(yīng)按表1的規(guī)定進(jìn)行。
表1 承壓設(shè)備用板材超聲檢測(cè)控闊頭選用
板厚，mm | 采用探頭 | 公稱(chēng)頻率，MHz | 探頭晶片尺寸 |
6～20 | 雙晶直探頭 | 5 | 晶片面積不小于150mm2 |
>20～40 | 單晶直探頭 | 5 | φ14mm～φ20mm |
>40～250 | 單晶直探頭 | 2.5 | φ20mm～φ25mm |
4.1.2.2 雙晶直探頭性能應(yīng)符合附錄A(規(guī)范性附錄)的要求。
4.1.3 標(biāo)準(zhǔn)試塊
4.1.3.1
